Dank der großen Schärfentiefe erlaubt es gestochen scharfe Abbildungen sowohl von glatten als auch von sehr rauen Oberflächen.
Der Detektor für Rückstreuelektronen ( BSE vom engl. back-scattered electrons ) liefert Informationen zur lateralen Verteilung leichter und schwerer Elemente.
Ein eingebautes energiedispersives Spektrometer ( EDS ) ermöglicht quantitative Elementanalysen unter einem Punkt, entlang einer Linie und in einer Fläche sowie die Anfertigung von Elementverteilungskarten von der zu untersuchenden Oberfläche.
www.geo.uni-potsdam.deWith a large focal depth, the SEM allows for needle-sharp photographs of smooth and rough surfaces.
A back-scattered electron detector displays compositional variation of light and heavy elements across the imaging area.
An energy dispersive X-ray spectrometer ( EDS ) attached to the instrumentation provides quantitative elemental analysis of single spots, line scans and area scans as well as element distribution maps.
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