Testsysteme für Chips in der High-Speed Datenübertragung
Foto- und Laserdioden vor dem Einbau in ein Gehäuse zu testen bedarf spezieller Instrumente wie z. B. dem Bit Error Ratio Test , kurz BERT .
Mittels Augendiagramm wird die Signalqualität des Ergebnisses der Umwandlung von Licht in Strom und damit die Bitfehlerrate gemessen.
www.hhi.fraunhofer.deA Testing System for Chips in High-Speed Data Transmission
Testing photo diodes and laser diodes before they are embedded in housings requires special instruments like the bit error ratio test , or BERT for short .
Eye diagrams are used to measure the signal quality resulting from the transformation of light into electrical power and thus the bit error ratio.
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Testing photo diodes and laser diodes before they are embedded in housings requires special instruments like the bit error ratio test , or BERT for short .
Eye diagrams are used to measure the signal quality resulting from the transformation of light into electrical power and thus the bit error ratio.
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Foto- und Laserdioden vor dem Einbau in ein Gehäuse zu testen bedarf spezieller Instrumente wie z. B. dem Bit Error Ratio Test , kurz BERT .
Mittels Augendiagramm wird die Signalqualität des Ergebnisses der Umwandlung von Licht in Strom und damit die Bitfehlerrate gemessen.
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