Bilder können mittels hellfeld TEM oder ( hochwinkliger ) annularer dunkelfeld Raster-TEM ( engl. bright field TEM ( BFTEM ) und ( high angle ) annular dark field scanning TEM ( ( HA ) ADF-STEM ) ) aufgenommen werden.
Hochauflösende TEM ( engl. high resolution TEM ( HRTEM ) ) und Elektronenbeugung ( engl. electron diffraction ( ED ) können dazu eingesetzt werden die MOF Matrix und die eingebetteten NP zu identifizieren .
Die Zusammensetzung kann mittels energiedispersiver Röntgenspecktroskopie (engl. energy dispersive x-ray spectroscopy (EDX)) oder Elektronenenergieverlustspe... (engl. electron energy loss spectroscopy (EELS)) bestimmt werden.
www.ruhr-uni-bochum.deImages can be obtained in bright field TEM or ( high angle ) annular dark field scanning TEM ( BFTEM and ( HA ) ADF-STEM ).
The MOF matrix and embedded NP can be identified by high resolution TEM ( HRTEM ) and electron diffraction ( ED ) .
The composition can be determined by energy dispersive x-ray spectroscopy (EDX) or electron energy loss spectroscopy (EELS).
www.ruhr-uni-bochum.deLEED Bildgebung
Mit der Beugung niederenergetischer Elektronen ( englisch : Low Energy Electron Diffraction - LEED ) kann die Anordnung von Atomen an Oberflächen und in dünnen Filmen untersucht werden .
Dabei wird das zu untersuchende Material mit einem Elektronenstrahl beleuchtet.
www.greateyes.deLEED Imaging
Low Energy Electron Diffraction is a technique used to determine the atom formation on surface structures and thin films of crystalline materials .
For this purpose, a bombardment with a collimated beam of low energy electrons on the probe material is arranged.
www.greateyes.deElement- und Mikrostrukturanalytik für die Elektronenmikroskopie
Bruker bietet ein Spektrum an leistungsstarken Systemen für die energiedispersive ( EDS ) und wellenlängendispersive ( WDS ) Röntgenspektrometrie , die EBSD- ( Electron Backscatter Diffraction- ) Analyse sowie die Mikro-Röntgenfluoreszenzana... und Mikro-Computertomographie an Elektronenmikroskopen .
QUANTAX EDS für REM ist das schnelle und leistungsfähige EDS-System für Rasterelektronenmikroskopie.
www.bruker.comAdvancing compositional and structural analysis in electron microscopy
Bruker offers a powerful range of systems for energy-dispersive ( EDS ) and wavelength-dispersive ( WDS ) X-ray spectrometry , electron backscatter diffraction analysis ( EBSD ) , as well as micro-X-ray fluorescence and micro computed tomography on the electron microscope .
QUANTAX EDS for SEM is the fast and versatile EDS system for scanning electron microscopy.
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The MOF matrix and embedded NP can be identified by high resolution TEM ( HRTEM ) and electron diffraction ( ED ) .
The composition can be determined by energy dispersive x-ray spectroscopy (EDX) or electron energy loss spectroscopy (EELS).
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